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普发电容薄膜真空计 1 hPa（DN 16 KF，带开关点）
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普发电容薄膜真空计 1 hPa（DN 16 KF，带开关点），是高精密真空度检测核心部件。它基于气体分子电离效应，捕捉高真空区间压力变化；红铝紧凑机身适配多规格接口，便于狭小腔体快速安装；高灵敏度、响应快、抗干扰强，适用于半导体精密腔体、实验室真空设备的真空度实时监测，兼容智能控制系统。
普发真空微型电离真空规的 DN 16 ISO-KF 接口尺寸图，该部件是高精密真空度检测元件。它基于气体分子电离效应测压，总高 141.9mm、顶部宽 82mm，搭配 DN 16 ISO-KF 标准接口，紧凑设计适配狭小腔体；高灵敏度、响应快、抗干扰强，可用于半导体精密腔体、实验室真空设备的真空度实时监测，兼容智能控制系统。
电容式真空计量程 1×10⁻⁴–1 hPa，可等效替代 MKS Baratron，适配半导体、镀膜与实验室精密测量。采用耐腐蚀陶瓷技术，长期与温度稳定性优异，零点漂移极小。自带传感器罩有效防污染，延长使用寿命。每台出厂附带校准测试报告，品质可追溯，安装便捷、运行稳定，是高精度真空监测的高性价比之选。
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